蔡司GeminiSEM 500掃描電鏡SEM場發(fā)射掃描電子顯微鏡為您呈現(xiàn)任意樣品表面更強的信號和更豐富的細節(jié)信息，尤其在低的加速電壓下，在避免樣品損傷的同時快速地獲取更高清晰度的圖像。
經(jīng)優(yōu)化和增強的Inlens探測器可高效地采集信號，助您快速地獲取清晰的圖像，并使樣品損傷降至更低；
在低電壓下?lián)碛懈叩男旁氡群透叩囊r度，二次電子圖像分辨率1 kV達0.9nm，500 V達1.0 nm，無需樣品臺減速即可進行高質(zhì)量的低電壓成像，
為您呈現(xiàn)任意樣品在納米尺度上更豐富的細節(jié)信息；
應用樣品臺減速技術-（Tandem decel），可在1 kV下獲得高達0.8nm二次電子圖像分辨率；
創(chuàng)新設計的可變壓力模式-NanoVP技術，讓您擁有身處在高真空模式下工作的感覺。