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發(fā)布時(shí)間:2022-06-24 15:45:28
隨著科技的飛速發(fā)展,光學(xué)檢測(cè)已不能滿足對(duì)材料領(lǐng)域顯微結(jié)構(gòu)觀測(cè)的需求。而傳統(tǒng)大型掃描電鏡價(jià)錢昂貴,使很多有顯微結(jié)構(gòu)觀測(cè)需求的客戶望而生畏,進(jìn)而臺(tái)式掃描電鏡憑著性價(jià)比高、維系低成本、使用方便快捷等長處逐漸走上舞臺(tái),逐漸變成材料領(lǐng)域用戶常規(guī)的測(cè)試工具。 針對(duì)材料顯微結(jié)構(gòu)的觀測(cè)往往需求體現(xiàn),其更為真實(shí)的形態(tài)結(jié)構(gòu),很多材料并不是有著導(dǎo)電率,當(dāng)掃描電鏡中的入射電子束與導(dǎo)電率不好的試樣功能時(shí),電子將在試樣表層發(fā)生不穩(wěn)靜電場(chǎng),使拍攝的圖像發(fā)現(xiàn)異常差異的白色或黑色地區(qū),甚至于發(fā)生突變,嚴(yán)重危害觀測(cè)和圖像質(zhì)量,這種情況稱作“放電現(xiàn)象”或“荷電現(xiàn)象”。 解決荷電有很多種方式,在低電壓下觀測(cè)試樣,使入射電子相當(dāng)于發(fā)生的二次電子和背散射電子的總數(shù),進(jìn)而完成電荷的穩(wěn)定平衡;亦或是在試樣表層噴鍍連續(xù)導(dǎo)電層,使其表層有著良好導(dǎo)電率都能夠有效避免荷電現(xiàn)象。 在不允許臺(tái)式掃描電鏡做試樣噴金處理的情況下,能有效解決導(dǎo)電性能很差或絕緣試樣的成像問題。再相結(jié)合大試樣臺(tái),點(diǎn)一下任意感興趣的位置,視野即可快速移動(dòng)到該位置,輕松幫助用戶完成觀測(cè)。
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